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    我們的服務 失效分析 功率模塊LV/AQG 324認證試驗
    功率模塊LV/AQG 324認證試驗
    AQG324制定了完善的車規級功率模塊可靠性試驗,可以有效驗證產品可靠性,指導廠商更深入了解其產品可靠性能,從而加快產品開發速度,優化工藝流程。廣電計量以LV/AQG324認證試驗為基礎,布局半導體功率模塊驗證相關技術能力,為功率半導體產業上下游企業提供功率模塊電學性能檢測,材料、器件與系統的可靠性驗證以及失效分析服務。
    服務介紹
    功率半導體模塊是新能源汽車中的核心部件之一,目前絕大多市場份額為國際巨頭所壟斷,而國產功率模塊性能尚無法滿足汽車核心裝備應用,主要原因之一是可靠性有待提升。
     

    測試周期:

    2-3個月,提供全面的認證計劃、測試等服務
     

    產品范圍:

    適用于MOSFET,Diode,IGBT,第三代半導體器件等元件構成的功率模塊。
     

    測試項目:

    序號 測試項目 縮寫 樣品數/批 測試方法
    1 Thermal shock test TST 6 IEC 60749-25
    2 Vibration V 6 DIN EN 60068-2-6
    3 Mechanical shock MS 6 DIN EN 60068-2-27
    4 Power cycling PCsec 6 IEC 60749-34
    5 Power cycle PCmin 6 IEC 60749-34
    6 High-temperature storage HTS 6 IEC 60749-6
    7 Low-temperature storage LTS 6 JEDEC JESD-22 A119
    8 High-temperature reverse bias HTRB 6 IEC 60747-9
    9 High-temperature gate bias HTGB 6 IEC 60747-9
    10 High-humidity, high-temperature reverse bias H3TRB 6 IEC 60749-5
    11 Determining parasitic stray inductance Lp 6 IEC 60747-15
    12 Determining thermal resistance Rth 6 DIN EN 60747-15
    13 Determining short-circuit capability / 6 /
    14 Insulation test / 6 /
    15 Determining mechanical data / 6 /

     

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